标准编号：GB/T 20724-2021
代替以下标准：GB/T 20724-2006
中文名称：微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
英文名称：Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
发布日期：2021-12-31
实施日期：2022-07-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草人
柳得橹、娄艳芝
起草单位
北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院
标准范围
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。
本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。
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