标准编号:GB/T 1772-1979

中文名称:电子元器件失效率试验方法

英文名称:Determination of failure rate of electronic elements and components

发布日期:1979-09-25

实施日期:1980-03-01

归口单位:工业和信息化部(电子)

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

电子部四所

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