标准编号：GB/T 5594.8-1985
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
归口单位：工业和信息化部（电子）
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
上海科技大学
标准范围
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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