标准编号：GB/T 5594.1-1985
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
归口单位：工业和信息化部（电子）
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
电子部12所
标准范围
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
立即下载标准文件