标准编号：GB/T 5594.5-1985
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
归口单位：工业和信息化部（电子）
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
南京电子管厂
标准范围
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。
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