标准编号：GB/T 16822-1997
中文名称：介电晶体介电性能的试验方法
英文名称：Test method for dielectric properties of dielectric crystal
发布日期：1997-05-28
实施日期：1998-02-01
归口单位：工业和信息化部（电子）
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
中国科学院物理研究所
标准范围
本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
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