标准编号：GB/T 17473.2-2008
代替以下标准：GB/T 17473.2-1998
中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
英文名称：Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
批准发布部门：中国有色金属工业协会
起草人
武新荣、罗云、陈伏生、李文琳
起草单位
贵研铂业股份有限公司
标准范围
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。
立即下载标准文件