标准编号：GB/T 1554-2009
代替以下标准：GB/T 1554-1995
中文名称：硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
英文名称：Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草人
何兰英、王炎、张辉坚、刘阳
起草单位
峨嵋半导体材料厂
标准范围
u3000u3000本标准规定了用择优腐蚀技术检验硅晶体完整性的方法。
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