标准编号：GB/T 14849.5-2014
代替以下标准：GB/T 14849.5-2010
中文名称：工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method
发布日期：2014-12-05
实施日期：2015-05-01
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
批准发布部门：中国有色金属工业协会
起草人
刘英波、赵德平、杨毅、杨海岸、周杰
起草单位
昆明冶金研究院、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司、蓝星硅材料有限公司、云南出入境检验检疫局、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、包头铝业有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司
标准范围
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。
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