标准编号：GB/T 4377-2018
代替以下标准：GB/T 4377-1996
中文名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
王鸿儒、袁莹莹、张宝华、张冰、邹臣、朱华、陈志培、罗彬
起草单位
圣邦微电子（北京）股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、北京宇翔电子有限公司
标准范围
本标准规定了电压调整器（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。
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