SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

标准编号：SJ/T 11212-1999

中文名称：石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

发布日期：1999-08-26

实施日期：1999-12-01

批准发布部门：信息产业部

标准范围

本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z 9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。