标准编号：SJ/T 10167-1991
中文名称：电子设备密封结构试验方法
发布日期：1991-04-02
实施日期：1991-07-01
批准发布部门：电子工业部
标准范围
本标准规定了电子设备密封结构壳体的密封试验方法。 本标准适用于密封壳体的水密封、尘密封、气密封试验。
SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法
立即下载标准文件大家都在看
- SJ/T 10164-1991 十字槽螺钉旋具头
- SJ/T 10156-1991 混合厚膜集成电路HM0111,HM0114电源误差放大电路详细规范
- SJ/T 10298-1991 LCR测量仪测试方法
- SJ/T 10112-1991 SD005A型高频接收机
- SJ/T 11362-2006 企业信息化技术规范制造执行系统（MES）规范
- SJ/T 11305-2005 卫星定位车辆信息服务系统 第2部分：车载终端与服务中心信息交换协议
- SJ/T 960-2000 电子束管侧引出线取向图示法
- SJ/T 11310-2005 信息设备资源共享协同服务 第1部分：基础协议
- SJ/T 10159-1991 电子设备用机械门锁结构形式,尺寸及技术要求
- SJ/T 10101-1991 C-0磁带盒