SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则

标准编号：SJ/T 10457-1993

中文名称：俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则

发布日期：1993-12-17

实施日期：1994-06-01

批准发布部门：电子工业部

标准范围

本标准导则适用于采用磨角与截面法、球抗法、离子测射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术尝试剖析。本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前，应该制定适当的安全与保健措施，并确定本导则的范围。