标准编号：SJ/T 11399-2009
中文名称：半导体发光二极管芯片测试方法
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
归口单位：中国电子技术标准化研究所
批准发布部门：工业和信息化部
起草人
鲍超、胡爱华
起草单位
中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
标准范围
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
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