JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

标准编号：JB/T 10034-2012

代替以下标准：JB/T 10034-1999

中文名称：光栅角位移测量系统

发布日期：2012-05-24

实施日期：2012-11-01

归口单位：全国量具量仪标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

谢拉堂、曹学东 等

起草单位

四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所等

标准范围

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统。

标准预览图