SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

标准编号：SJ/T 11471-2014

中文名称：发光二极管外延片测试方法

发布日期：2014-10-14

实施日期：2015-04-01

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

潘尧波、丁晓民

起草单位

上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司

标准范围

本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。

标准预览图