SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
| 标准号 | SJ/T 11471-2014 | 标准名称 | 发光二极管外延片测试方法 |
| 发布日期 | 2014-10-14 | 实施日期 | 2015-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | None | 归口单位 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | H83 | ||
| 国际标准分类 | 29.045 | ||
| 起草人 | <p>潘尧波、丁晓民</p> | ||
| 起草单位 | <p>上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。 |
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