SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
| 标准号 | SJ/T 2214-2015 | 标准名称 | 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 |
| 发布日期 | 2015-04-30 | 实施日期 | 2015-10-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | SJ/T 2214.1～ 2214.10-1982 | |
| 提出单位 | None | 归口单位 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L54 | ||
| 国际标准分类 | 31.080 | ||
| 起草人 | <p>郭萍、王波、崔大键</p> | ||
| 起草单位 | <p>中电子科技集团公第四十四研究所</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管（以下简称“器件”）光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。 本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。 |
||
| 首页预览图 | |||