SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
| 标准号 | SJ/T 2658.1-2015 | 标准名称 | 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则 |
| 发布日期 | 2015-10-10 | 实施日期 | 2016-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | SJ/T 2658.1-1986 | |
| 提出单位 | None | 归口单位 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L53 | ||
| 国际标准分类 | 31.080 | ||
| 起草人 | <p>张戈、赵英</p> | ||
| 起草单位 | <p>工业和信息化部电子工业标准化研究院</p> | ||
| 适用范围 | 本部分规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。 |
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