SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
| 标准号 | SJ/T 2658.8-2015 | 标准名称 | 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度 |
| 发布日期 | 2015-10-10 | 实施日期 | 2016-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | SJ/T 2658.8-1986 | |
| 提出单位 | None | 归口单位 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L53 | ||
| 国际标准分类 | 31.080 | ||
| 起草人 | <p>张戈、赵英</p> | ||
| 起草单位 | <p>工业和信息化部电子工业标准化研究院</p> | ||
| 适用范围 | 本部分规定了半导体红外发射二极管辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。 |
||
| 首页预览图 | |||