SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南
| 标准号 | SJ/T 11577-2016 | 标准名称 | SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南 |
| 发布日期 | 2016-01-15 | 实施日期 | 2016-06-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | None | 归口单位 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L53 | ||
| 国际标准分类 | 31.260 | ||
| 起草人 | <p>周钢、牟同升、赵英 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。 |
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