SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法
| 标准号 | SJ/T 2749-2016 | 标准名称 | 半导体激光二极管测试方法 |
| 发布日期 | 2016-01-15 | 实施日期 | 2016-06-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | SJ/T 2749-1987 | |
| 提出单位 | None | 归口单位 | 工业和信息化部电子工业标准化研究院 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L53 | ||
| 国际标准分类 | 31.080 | ||
| 起草人 | <p>王欣、谢亮、满江伟 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>中国科学院半导体研究所</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了半导体激光二极管的光学、电学和热学参数的测试方法。本标准适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管（以下简称“激光二极管”）。 |
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