SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
标准号 | SJ/T 11631-2016 | 标准名称 | 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法 |
发布日期 | 2016-04-05 | 实施日期 | 2016-09-01 |
废止日期 | 代替以下标准 | ||
提出单位 | None | 归口单位 | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会 |
批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
中国标准分类 | H21 | ||
国际标准分类 | 77.040 | ||
起草人 | <p>陈佳洵、贺东江、黄黎 等</p> | ||
起草单位 | <p>中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司</p> | ||
适用范围 | 本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。 本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时,需经有各方协商。 |
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