SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
| 标准号 | SJ/T 11704-2018 | 标准名称 | 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 |
| 发布日期 | 2018-02-09 | 实施日期 | 2018-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | None | 归口单位 | 全国集成电路标准化分技术委员会 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L55 | ||
| 国际标准分类 | 31.200 | ||
| 起草人 | <p>王琪、张崤君、贾松良 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。 本标准适用于高频数字微电子封装。 |
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