SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南
| 标准号 | SJ/T 11699-2018 | 标准名称 | IP核可测性设计指南 |
| 发布日期 | 2018-02-09 | 实施日期 | 2018-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | None | 归口单位 | 全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L55 | ||
| 国际标准分类 | 31.200 | ||
| 起草人 | <p>王永生、肖立伊、付方发 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心等</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。 本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。 |
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