SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
| 标准号 | SJ/T 11706-2018 | 标准名称 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 |
| 发布日期 | 2018-02-09 | 实施日期 | 2018-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | None | 归口单位 | 全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L55 | ||
| 国际标准分类 | 31.200 | ||
| 起草人 | <p>刘芳、尹航、胡海涛 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。 |
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