标准编号：SJ/T 11706-2018
中文名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
起草人
刘芳、尹航、胡海涛 等
起草单位
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
标准范围
本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
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