标准编号:SJ/T 11767-2020
中文名称:二极管低频噪声参数测试方法
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
归口单位:基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
批准发布部门:工业和信息化部
起草人
余永涛、胡为、恩云飞 等
起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
标准范围
适用于二极管1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试
标准编号:SJ/T 11767-2020
中文名称:二极管低频噪声参数测试方法
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
归口单位:基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
批准发布部门:工业和信息化部
余永涛、胡为、恩云飞 等
工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
适用于二极管1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试