SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
| 标准号 | SJ/T 11767-2020 | 标准名称 | 二极管低频噪声参数测试方法 |
| 发布日期 | 2020-12-09 | 实施日期 | 2021-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | None | 归口单位 | 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L41 | ||
| 国际标准分类 | 31.080.01 | ||
| 起草人 | <p>余永涛、胡为、恩云飞 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等</p> | ||
| 适用范围 | 适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试 |
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