SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
标准号 | SJ/T 11769-2020 | 标准名称 | 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 |
发布日期 | 2020-12-09 | 实施日期 | 2021-04-01 |
废止日期 | 代替以下标准 | ||
提出单位 | None | 归口单位 | 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组 |
批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
中国标准分类 | L04 | ||
国际标准分类 | 31.020 | ||
起草人 | <p>罗宏伟、张伟、胡为 等</p> | ||
起草单位 | <p>工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等</p> | ||
适用范围 | 适用于电子元器件1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数测试 |
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