T/CIE 126-2021 磁随机存储芯片测试方法
| 标准号 | T/CIE 126-2021 | 标准名称 | 磁随机存储芯片测试方法 |
| 发布日期 | 2021-12-23 | 实施日期 | 2022-02-10 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 团体名称 | 中国电子学会 | ||
| 中国标准分类 | L56 | ||
| 国际标准分类 | 31.200 | ||
| 起草人 | 赵巍胜、彭守仲、李月婷、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、 陈燕宁、付振、潘成、刘芳、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、陆时进、李鑫云、曹安妮、王戈飞、刘宏喜、郭玮、何帆、菅端端、南江 | ||
| 起草单位 | 北京航空航天大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、中国电子技术标准化研究院 | ||
| 适用范围 | 本标准给出了磁随机存储芯片测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。 本标准适用于磁随机存储芯片测试和磁随机存储芯片关键性能（可靠性和电学参数等）验证。 |
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