标准编号：T/IAWBS 003-2017
中文名称：碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
发布日期：2017-12-20
实施日期：2017-12-31
批准发布部门：中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
起草人
冯淦、陈志霞、钮应喜、张新河、李赟、陆敏、彭同华、刘振洲
起草单位
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、瀚天天成电子科技（厦门）有限公司、全球能源互联网研究院、东莞天域半导体科技有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十五研究所
标准编号：T/IAWBS 003-2017
中文名称：碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
发布日期：2017-12-20
实施日期：2017-12-31
批准发布部门：中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
冯淦、陈志霞、钮应喜、张新河、李赟、陆敏、彭同华、刘振洲
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、瀚天天成电子科技（厦门）有限公司、全球能源互联网研究院、东莞天域半导体科技有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十五研究所
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