标准编号：JJF 1682-2017
中文名称：光栅式测微仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Grating Micrometers
发布日期：2017-11-20
实施日期：2018-05-20
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会
起草人
曹学东（中国科学院光电技术研究所）、匡龙（中国科学院光电技术研究所）、冉庆（中国测试技术研究院）、范天泉（中国科学院光电技术研究所）、马琳（安徽省计量科学研究院）、胡琦（中国科学院光电技术研究所）
起草单位
中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院、安徽省计量科学研究院
标准范围
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
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