JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范
| 标准号 | JJF 1682-2017 | 标准名称 | 光栅式测微仪校准规范 |
| 发布日期 | 2017-11-20 | 实施日期 | 2018-05-20 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 起草人 | 曹学东（中国科学院光电技术研究所）、匡龙（中国科学院光电技术研究所）、冉庆（中国测试技术研究院）、范天泉（中国科学院光电技术研究所）、马琳（安徽省计量科学研究院）、胡琦（中国科学院光电技术研究所） | ||
| 起草单位 | 中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院、安徽省计量科学研究院 | ||
| 适用范围 | 本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。 |
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