JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范
| 标准号 | JJF 1254-2010 | 标准名称 | 数显测高仪校准规范 |
| 发布日期 | 2010-05-11 | 实施日期 | 2010-11-11 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | JJG 929-1998 | |
| 起草人 | 匡龙(中国科学院光电技术研究所)、耿丽红(中国科学院光电技术研究所)、曹学东(中国科学院光电技术研究所)、冉庆(中国测试技术研究院) | ||
| 起草单位 | 中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院 | ||
| 适用范围 | 本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程0mm至1000mm的数显测高仪的校准。 数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。 |
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