GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
| 标准号 | GB/T 4937.23-2023 | 标准名称 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命 |
| 发布日期 | 2023-05-23 | 实施日期 | 2023-12-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 工业和信息化部 | 归口单位 | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 执行单位 | 工业和信息化部（电子） | 主管部门 | 工业和信息化部（电子） |
| 中国标准分类 | L40 | ||
| 国际标准分类 | 31.080.01 | ||
| 起草人 | 冉红雷、张魁、彭浩、魏兵、柯汉忠、颜天宝、张忠祥、黄杰、尹丽晶、徐昕、刘银燕 | ||
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、池州信安电子科技有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东科信电子有限公司 | ||
| 适用范围 | 本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。 |
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