标准编号：GB/T 42838-2023
中文名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
提出单位：工业和信息化部
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明
起草单位
中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所
标准范围
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。
本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
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