SJ/T 11777-2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
| 标准号 | SJ/T 11777-2021 | 标准名称 | 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法 |
| 发布日期 | 2021-03-05 | 实施日期 | 2021-06-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 全国电子测量仪器标准化技术委员会 | 归口单位 | 全国电子测量仪器标准化技术委员会 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L85 | ||
| 国际标准分类 | 17.220 | ||
| 起草人 | 李洁、刘冲、张珊、胡鹏、宋有聚 | ||
| 起草单位 | 中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司 | ||
| 适用范围 | 本标准规定了半导体管特性图示仪校准仪(以下简称“校准仪”)的术语和定义、技术要求和测量方法。 本标准适用于直流电压源输出范围不超过0.01V~5000V，直流电流源输出范围不超过10nA~10A，取样电阻标称范围不超过0.005Ω~10MΩ，阶梯电压归一化变换范围不超过0.1V~20V，阶梯电流归一化变换范围不超过10μA~20A，阶梯电压表测量范围不超过0.01V/阶~10V/阶，阶梯电流表测量范围不超过0.1μA/阶~10A/阶，脉冲电流表测量范围不超过10A~1000A的校准仪。 |
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