SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
| 标准号 | SJ/T 11820-2022 | 标准名称 | 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 |
| 发布日期 | 2022-10-20 | 实施日期 | 2023-01-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 全国电子测量仪器标准化技术委员会 | 归口单位 | 全国电子测量仪器标准化技术委员会 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L85 | ||
| 国际标准分类 | 17.220 | ||
| 起草人 | 刘冲、李洁、张珊 | ||
| 起草单位 | 中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司 | ||
| 适用范围 | 本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备（以下简称“分立器件测试设备”）的术语和定义、技术要求、测量方法。 本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01V~5000V，直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A，脉冲国沉输出和脉沖电流剩量花里不超过10A~1200A的分立器件测试设备。 |
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