SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件
| 标准号 | SJ/T 11845.2-2022 | 标准名称 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 |
| 发布日期 | 2022-10-20 | 实施日期 | 2023-01-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 工业和信息化部 | 归口单位 | 工业和信息化部 |
| 执行单位 | 工业和信息化部 | 主管部门 | 工业和信息化部 |
| 中国标准分类 | L50 | ||
| 国际标准分类 | 31.080.01 | ||
| 起草人 | 加春雷、包军林、王四新、熊盛阳、张伟、余永涛、赵美星、王君 、顾惠萍、李兆成、孙立军 | ||
| 起草单位 | 中国运载火箭技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司、西安电子科技大学、北京瑞普北光电子有限公司、中国电子科技集团公司第四十四研究所、苏州半导体总厂有限公司、深圳市量为科技有限公司 | ||
| 适用范围 | 本文件规定了用于光电耦合器件（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。 本文件适用于输出端为两端口的器件，包括光敏二极管输出型器件、光敏晶体管输出型器件、光敏达林顿管输出型器件、光电池输出型器件、光控品闸管输出型器件。 |
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