SJ/T 11845.1-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求
| 标准号 | SJ/T 11845.1-2022 | 标准名称 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求 |
| 发布日期 | 2022-10-20 | 实施日期 | 2023-01-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 工业和信息化部 | 归口单位 | 工业和信息化部 |
| 执行单位 | 工业和信息化部 | 主管部门 | 工业和信息化部 |
| 中国标准分类 | L04 | ||
| 国际标准分类 | |||
| 起草人 | 罗宏伟、余永涛、包军林、张伟、郭美洋、李兆成 | ||
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院、中国运载火箭技术研究院、济南市半导体元件试验所、深圳市量为科技有限公司 | ||
| 适用范围 | 本文件规定了基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的通用要求，为具体电子元器件可靠性的低频噪声评价方法标准的制定和实施提供指导。 本文件适用于在电子元器件生产过程中及使用前对元器件可靠性进行评价，由研制生产企业、用户或其它相应检测机构实施。 在对具体电子元器件进行可靠性评价时，需要结合具体电子元器件的特性进行实施，评价方法不限于本文件规定的内容。 |
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