GB/T 44635-2024 静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级
| 标准号 | GB/T 44635-2024 | 标准名称 | 静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级 |
| 发布日期 | 2024-09-29 | 实施日期 | 2024-09-29 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 工业和信息化部 | 归口单位 | 全国集成电路标准化技术委员会 |
| 执行单位 | 工业和信息化部（电子） | 主管部门 | 工业和信息化部（电子） |
| 中国标准分类 | L56 | ||
| 国际标准分类 | 31.080 | ||
| 起草人 | 胡小军、崔强、吴建飞、乔彦彬、汤海波、付君、杨红波、卞建勇、李燕、李金龙、熊璞、程江河、肖庆中、方文啸、陈奕旭、胡光亮、周镒、李楠、刘星汛、刘挺、周雷、鞠文静 | ||
| 起草单位 | 苏州泰思特电子科技有限公司、上海雷卯电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、东莞职业技术学院、重庆邮电大学、上海市计量测试技术研究院、国网电力科学研究院有限公司、厦门市产品质量监督检验院、深圳市北测标准技术服务有限公司、中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、中国信息通信研究院、扬芯科技（深圳）有限公司、北京无线电计量测试研究所、中国计量大学、江苏省计量科学研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司 | ||
| 适用范围 | 本文件定义了一种传输线脉冲（TLP）试验方法，用于评估被测半导体器件的电压电流响应，并考量静电放电（ESD）人体模型（HBM）防护的设计参数。 本文件建立了一种与TLP有关的试验和报告信息的方法。本文件的范围和重点涉及半导体器件的TLP试验技术。 本文件不是HBM试验标准（例如IEC 60749-26）的替代方法。本文件的目的是建立TLP方法的指南，以便提取半导体器件的HBM ESD参数。本文件提供了使用TLP正确提取HBM ESD参数的标准测量和程序。 |
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