标准编号：GB/T 44937.4-2024
中文名称：集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4: Measurement of conducted emissions—1Ω/150Ω direct coupling method
发布日期：2024-12-31
实施日期：2024-12-31
提出单位：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国集成电路标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
崔强、付君、吴建飞、邢立文、李腾飞、李彬鸿、胡小军、黄雪梅、周雷、杨红波、刘洋、陈勇志、乔彦彬、方文啸、朱赛、刘星汛、王少启、谢玉章、邵鄂、李楠、颜伟、周香、张红丽
起草单位
中国电子技术标准化研究院、南京容测检测技术有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、北京无线电计量测试研究所、中国科学院微电子研究所、苏州泰思特电子科技有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、东南大学、广州致远电子有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、安徽省计量科学研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、江苏省计量科学研究院、南京师范大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司
标准范围
本文件规定了直接用1Ω阻性探头测量射频（RF）电流和150Ω合网络测量RF电压以测量集成电路（IC）传导电磁发射（EME）的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。
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