SJ/T 11011-2015 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
| 标准号 | SJ/T 11011-2015 | 标准名称 | 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法 |
| 发布日期 | 2015-10-10 | 实施日期 | 2016-04-01 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | SJ/T 11011-1996；SJ/T 11012-1996；SJ/T 11013-1996；SJ/T 11014-1996；SJ/T 11015-1996；SJ/T 11016-1996；SJ/T | |
| 提出单位 | None | 归口单位 | 全国印制电路标准化技术委员会 |
| 批准发布部门 | 工业和信息化部 | ||
| 中国标准分类 | L90 | ||
| 国际标准分类 | 31.030 | ||
| 起草人 | <p>王奕、褚连青、张理 等</p> | ||
| 起草单位 | <p>信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电科第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院等</p> | ||
| 适用范围 | 本标准规定了采用ICP-AES测定电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测试方法。本标准适用于电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测定。 |
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