DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
| 标准号 | DB32/T 4378-2022 | 标准名称 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 |
| 发布日期 | 2022-10-23 | 实施日期 | 2022-11-23 |
| 废止日期 | 代替以下标准 | ||
| 提出单位 | 江苏省石墨烯检测标准化技术委员会 | 归口单位 | 江苏省石墨烯检测标准化技术委员会 |
| 批准发布部门 | 江苏省市场监督管理局 | ||
| 中国标准分类 | B61 | ||
| 国际标准分类 | 65.020.40 | ||
| 起草人 | 杨永强、丁海龙、区炳显、谢一麟、陈武魁、刘禹、魏宁、呼志跃、王云超、王勤生、马龙、李璐、屈晓兰、陈辉、秦继恩 | ||
| 起草单位 | 江苏省特种设备安全监督检验研究院（国家石墨烯产品质量检验检测中心（江苏））、苏州晶格电子有限公司、河南煜合科技集团有限公司、江苏华永烯科技有限公司、江南大学、无锡华鑫检测技术有限公司、中国矿业大学、烯源科技无锡有限公司 | ||
| 适用范围 | 本文件规定了采用导电橡胶探头进行衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻四探针无损测试的方法。 本文件适用于目测平坦且表面存在纳米、亚微米尺度薄膜样品的方块电阻测定，方块电阻测试范围为1×10-4Ω × 104Ω。 |
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