电子行业标准(SJ)

本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对重掺硅衬底单晶体中氧浓度总量的测试方法。 本标准适用于硼、锑、砷、磷的掺杂浓度＜0.2％（1×10∧20at·cm-3）的硅材料。特别适用于电阻率在0.00

本标准规定了集成电路用正胶显影液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于集成电路用正胶显影液，以下简称正胶显影液。 本标准不涉及使用安全性问题。本标准的使

本标准规定了服装制造生产线射频识别系统的术语和定义、技术要求、测试方法、质量评定程序、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于服装制造生产线射频识别系统的设计、使用和测试。

标准规定了液晶显示器用铝腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于液晶显示器用铝腐蚀液，以下简称铝腐蚀液。 本标准不涉及使用安全性问题。本标准的使用人

本标准规定了符合SJ/T 11310-2005的服务类型、接口要求、内容表现以及数据要求等。本标准适用与计算机、家用电器和通信设备等之间在一定范围内通过有线或无线的方式实现数据流的资源共享和协同服务

本标准规定了集成电路用电子浆料性能试验方法。 本标准适应于集成电路用导体浆料、电阻浆料、介质浆料等电子浆料。

本标准对电容器用金属化聚酯薄膜的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存要求作出了具体规定。

本标准规定了电视图像信号发生器共有的性能特性和测试方法。 本标准适用于PAL／D制的电视图像信号发生器，也适用于非行扫描方式的电视图像信号发生器。

本规范规定了硅光电二极管的光电特性和机械特性以及环境特性的技术要求、检验方法和检验规则等。 本规范适用于2CU系列硅光电二极管（以下简称“器件”）。

本标准规定了在77K时，用红外吸收法来测定砷化镓(GaAs)中替位硼含量的方法。 本标准适用于电阻率大于10∧6Ω·cm的半绝缘砷化镓单晶中替位硼含量的测试，测量硼含量的有效范围是从1×10∧16a

本标准规定了表面贴装技术印刷模板的术语和定义、产品标记、原材料、要求、检测方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等。 本标准适用于以不锈为主材的表面贴装技术印刷模板，其它主材表面贴装技术印刷模板可

本标准规定了对彩色等离子体显示器件的结构、标志、订货信息、极限值、推荐工作条件、器件性能指标和质量评定程序的详细要求。

本规范规定了磁盘阵列的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和存贮。 本规范适用于采用硬磁盘驱动器或固态硬盘驱动器（下简称盘）的盘阵列，采用其他存储媒体的盘阵列也可参照使用。

本标准规定了集成电路用铝腐蚀液（以下简称铝腐蚀液）的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于集成电路用铝腐蚀液。 本标准不涉及使用安全性问题。本标准的使用人

本标准规定了线阵列扬声器系统用音箱的相关性能的测试方法。

本标准规定了微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板（以下简称覆铜板）的分类、各项技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、储存及运输要求。 本标准适用于E玻纤布聚四氟乙烯乳液，经烘干、烧结成的聚四氟

本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管（以下简称“器件”）光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。 本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。

本标准规定了设备间在资源共享协同服务的基础协议下实现媒体数据和文件数据流数据资源共享和协同服务的应用框架、设备交互流程模式，以及设备间交互过程中的请求和响应的消息格式及设备提供服务的描述格式。本标准

本标准规定了PIN、雪崩光电二极管（以下简称“二极管”）光电参数的测试方法。

本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。 本标准适用于电阻率在10∧4Ω·cm～10∧9Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。

本标准规定了低位错密度磷化铟（InP）抛光片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法。 本标准适用于直径2英寸且EPD小于5000／cm2 的圆形InP晶片的EPD的测量。

本标准规定了衬底和红外探测器窗口用蓝宝石单晶抛光片的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装运输和贮存等内容。 标准适用于泡生法和直拉法生长的蓝宝石单晶抛光片，其它方法生长的蓝宝石单晶抛光片也可参照

本标准规定了薄膜晶体管（TFT）用掩模版产品的技术要求、试验方法、检验规则以及包装、运输和储存。

本标准规定了75-141型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

本标准规定了液晶显示器用ITO腐蚀液的术语、分类、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于液晶显示器用ITO腐蚀液，以下简称IT0腐蚀液。 本标准不涉及使用安全性

本标准规定了低位错密度砷化镓(GaAs)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。 本标准适用于直径2英寸和3英寸且EPD小于5000／cm2 的圆形GaAs晶片的EPD的测量。

本标准规定了开关型电源适配器(简称电源适配器)的术语和定义、要求、测验方法、质量评定程序、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于信息技术设备用交流-直流输出的开关型电源适配器，如:计算机及外围设备、

本标准规定了半导体光电合器（以下简称“器件”）的测试方法。 本标准适用于半导体光电合器。

本标准规定了利用拉曼光谱定碳化硅单晶结晶类的方法。 本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

本标准规定了数字电视机用等离子体显示器件的可靠性试验的试验类型、可靠性预计、预处理、试验设备、试验环境、试验样品、统计试验方案、试验时间、试验应力、试验前的准备、测试信号、检查、失效判据、失效数的计